专利名称：测距装置和测距方法专利类型：发明专利
发明人：天川庆太郎,森山祐介申请号：CN201880003188.1申请日：20180814公开号：CN109729723A公开日：20190507
摘要：本发明涉及一种能够提高测距精度的测距装置和测距方法。控制单元通过将用于对发出照射光的发光操作进行控制的发光时序信号供给至发光单元来控制发光操作，并且通过将用于对接收反射光的光接收操作进行控制的光接收时序信号供给至光接收单元来控制光接收操作。测量单元使用发光时序信号和光接收时序信号来测量发光单元发出照射光的发光时序和光接收单元接收反射光的光接收时序之间的偏差时间。本技术例如能够应用于通过使用ToF方法进行测距的情况。
申请人：索尼半导体解决方案公司
地址：日本神奈川县
国籍：JP
代理机构：北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
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